檢索結果：共9筆資料 檢索策略： "Chin-Hsien Wu".ecommittee (精準) and ckeyword.raw="可靠度"
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三維積體電路將各層的裝置整合在一起後，導致電路嚴重無法散熱的問題，進而使得整體電路可靠度的降低；可靠度的降低不僅僅造成電路的損害還會造成不可預期的錯誤或損失。 由於電路散熱及可靠度的問題日趨嚴…
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由於快閃記憶體具有有限的P/E cycles，因此超過快閃記憶體單位限制的P/E cycles後會出現嚴重的可靠性問題，主要原因是快閃記憶體單元中的寫穿(wear-out)現象，受到該現象的影響下，…
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近年來，錯誤修正碼 (ECC) 技術與內建自我修復 (BISR) 技術皆被廣泛地使用來提升記憶體的良率與可靠度。錯誤修正碼技術以及內建自我修復技術主要分別用來處理軟錯誤與硬錯誤。而在過去有許…
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現在科技不斷的朝多核心方向發展，從早期在個人PC上發展多核心到智慧型手機也開始裝載多核心，反映出多核心系統越來越貼近生活，尤其多核心系統較單核心系統有較優的運算能力，能提供越來越大量資訊運算的需求。…
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由於有良好的可擴充性、低功耗及出色的隨機存取表現，快閃記憶體在消費性電子產品中佔主要的地位，像是筆記型電腦和數位音響播放器等產品。快閃記憶體細胞的儲存資訊方法是將電子儲存於浮閘中，隨著製程的…
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由於快閃記憶體具有有限的編程/抹除次數(P/E cycles)限制，通常在超過該上限次數後，逐漸不堪使用，而其核心原因來自於快閃記憶體單元內的寫穿(wear-out)現象，在此現象的影響下，任何資料…
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隨著科技的發展，NAND Flash Memory已經逐漸取代傳統硬碟(Hard Disk Drive, HDD)，成為目前主流的儲存設備。NAND Flash Memory具有體積小、低功耗、讀寫…